型号2021

分析断层夹持器
  • 能量色散x射线光谱学优化
  • 铍尖端和夹子最小化x射线干扰
  • High-tilt角度
  • 大视场
  • 简单,准确的试样加载和定位

便于在三维中获取结构和基本信息

分析层析成像支架是能量色散x射线光谱学的优化。支架尖端和夹钳由铍制造,以减少对样品进行元素分析时的x射线干扰。在极高倾斜角度下,在5毫米或更大的极片间隙下,具有大视野的成像样品是可能的。

分析层析成像支架是理想的电子层析成像时,结构和元素组成的组合是必需的,以及任何其他要求高样品倾斜的应用。

没有阴影

流线型的标本夹紧机构消除了与大多数持有人在高倾斜角度的阴影。夹紧机构接受一个标准的直径3毫米的TEM样品,并适应广泛的样品厚度。试样夹紧机构对试样产生均匀分布的力。锥形的,自定心的试样杯引导试样进入位置。完全可伸缩的夹具使它容易预对准或手动旋转的样品为双轴倾斜系列。