型号2021

分析断层夹持器
  • 优化的能量色散x射线光谱
  • 铍的尖端和夹子最大限度地减少x射线干扰
  • High-tilt角度
  • 大视场
  • 简单、准确的试样加载和定位

有利于三维结构和元素信息的获取

解析层析成像Holder是优化的能量色散x射线光谱。支架尖端和夹具由铍制造,以减少x射线干扰时,进行元素分析的样品。成像标本在极片间隙5毫米或更大视场的极高倾斜角度是可能的。

分析层析成像支架是理想的电子层析成像时,结合结构和元素组成,以及任何其他应用需要高样品倾斜。

没有阴影

一种流线型的标本夹紧机构消除了与大多数持有人在高倾斜角度的阴影。该夹持机构接受一个标准的3毫米直径的TEM试样,并适应广泛的试样厚度范围。试件夹紧机构对试件产生均匀分布的力。锥形的,自定心的样品杯引导样品进入位置。完全可伸缩的夹钳,使它很容易预对齐或旋转标本手动双轴倾斜系列。