型号2021

分析断层夹持器
  • 优化能量色散x射线光谱学
  • 铍头和夹钳尽量减少x射线的干扰
  • High-tilt角度
  • 大视场
  • 易于,准确的试样加载和定位

便于获取三维结构和基本信息

分析层析成像支架是优化的能量色散x射线光谱。支架尖端和夹具是由铍制造,以尽量减少x射线干扰时,进行样品的元素分析。成像标本在极高的倾斜角度与大视场在极片间隙5毫米或更大是可能的。

当需要结合结构和元素组成时,分析层析成像支架是电子层析成像的理想选择,也适用于需要高试样倾斜度的其他应用。

没有阴影

流线型的标本夹紧机构消除了与大多数持器在高倾斜角度相关的阴影。装夹机构接受一个标准的3毫米直径的TEM样品,并容纳一个大范围的样品厚度。试样夹紧机构对试样产生均匀分布的力。锥形的、自定心的标本杯引导标本到位。完全可伸缩的夹钳使它很容易预先调整或手动旋转标本双轴倾斜系列。