3000型

环形暗场(ADF)探测器
  • 同时高角度环形暗场成像和电子能量损失光谱
  • 产生Z-对比度信息
  • 单电子检测
  • 从光束路径完全伸缩

高分辨率扫描透射电子显微镜成像

环形暗场(ADF)检测器是高分辨率扫描透射电子显微镜(Stem)成像的理想选择。它允许同时高角度ADF成像和电子能损光谱。它具有单一电子检测能力和高量子效率。检测器充满了光束路径的气动可伸缩。

原子分辨率成像和Z-对比度

通过收集通过高角度散射的电子形成的电子形成高角度ADF杆图像。对于在样本内入射电子和原子柱之间的高角度,弹性和非弹性相互作用产生图像对比度。因为涉及靶原子的核,所以散射强度随原子数而变化。ADF检测器捕获这些高度散射的电子,产生原子分辨率成像和Z-对比度信息。

ADF检测器包括单晶钇铝钙钛矿(YAP)闪烁体光学耦合到光电倍增管。