型号3000

环形暗场(ADF)探测器
  • 同步高角环形暗场成像和电子能量损失谱
  • 得到Z-对比度信息
  • 单电子检测
  • 从光束路径完全缩回的

高分辨率扫描透射电子显微镜成像

环形暗场(ADF)检测器是理想的高分辨率扫描透射电子显微镜(STEM)的成像。它允许同时高角度ADF成像和电子能量损失谱。它具有单一的电子检测功能和高的量子效率。该检测器是从光束路径气动伸缩。

原子分辨率的成像和Z-对比

高角度ADF STEM图像是通过收集已穿过高角度被向前散射的电子形成的。对于高角度入射电子和试样内的原子的列之间弹性和非弹性相互作用产生图像对比度。因为目标原子的原子核都参与其中,散射的强度与原子序数而变化。所述ADF检测器捕获这些高度散射电子产生两个原子分辨率成像和Z-对比度信息。

所述ADF检测器采用了单晶钇铝钙钛矿(YAP)闪烁体光学地耦合到一个光电倍增管。