2040型双轴层析成像支架用于需要原位标本旋转的透射电子显微镜成像或分析。获取双轴倾斜序列增强了层析图中包含的信息。在保持显微镜分辨率的同时，在窄间隙(~ 5mm)极片几何形状中具有最佳倾斜角度范围。