型号1080

PicoMill®TEM样品制备系统

最佳TEM样品制备完成一次成功

  • 达到最终样品质量 - 不含无定形和注入层
  • 补语FIB技术
  • 铣削不用介绍文物
  • 先进探测器技术用于成像和精确端点检测
  • 在具有离子和电子原位成像
  • 显微镜连接无风险的样本操作
  • 再添能力和实力
  • 快速,可靠和易于使用

后FIB加工生产最高品质的TEM标本

聚焦离子束(FIB)铣削是当今尖端材料中广泛使用的技术,该技术提供了一种手段,以制备透射电子显微镜(TEM)的样品。在这些先进材料的工作所面临的挑战是创建一个是电子透明,并从文物免费标本。所述FIB是在制备TEM样品高度有效的,但使用高能量的,液态金属离子源可以经常导致样品非晶化,镓离子注入,或两者。

该PicoMill系统是FIB技术的理想补充;它增加了生产的最佳标本质量的同时,全面提升了试样制备吞吐量最终变薄离线移动增加的能力。

让FIB做FIB最擅长的事;让PicoMill系统做休息

为了最大限度地提高容量FIB,标本可以离线的PicoMill系统最终细化移动。所述PicoMill系统提供的能力以精确地且可预测地薄的样品,这减少了潜在的返工和优化样本处理时间。这种通过生产优质的标本增加你的能力,以提高整个标本制作的吞吐量。

该PicoMill系统将让你实现一次成功样品制备每次。

网站专用,超低能量研磨

该PicoMill系统的离子源有基于灯丝的电离室和静电透镜。离子源是专门开发以产生超低离子能量与离子亚微米的光束直径。它使用惰性气体(氩气),并具有5​​0伏特的工作电压范围为2千伏。

离子源的反馈控制算法在各种研磨参数自动地产生稳定的和可重复的离子束条件。避免溅射材料的再沉积到感兴趣的区域,因为离子束可以被聚焦到一个特定区域。可扫描试件的表面的区域或目标用于选择性铣削的特定区域。这些离子只联系上,他们需要做的工作标本关注的部位。离子束从电网,这防止再沉积保持一定距离。

精确铣削角度调整

离子束冲击角度是从可编程-15°至+ 90°。离子源被固定在适当位置和测角仪倾斜的试样保持器,以实现通过PicoMill系统的用户界面编程的铣削角度。将试样沿X,Y定位,和Z轴精确地定向所述薄片FIB相对于所述离子束和电子束。

在入射低角度研磨试样(少于10°)最小化损害和样品加热。因为低角度铣削,用离子束光栅化相结合,有利于相异材料的均一变薄,它的制备层状结构或复合材料时是非常有益的。

原位成像

为了补充扫描电子柱中,PicoMill系统具有多个检测器:

  • 一个背散射电子检测器在用电子原位成像(BSE),用于

  • 一个二次电子探测器(SED)用于原位成像离子和电子

  • 一个扫描/透射电子检测器(STEM),用于电子透明度和端点检测

该检测器相结合,可以在试样的原位成像期间之前执行,和离子铣之后。含有上的常规制备的试样中的FIB薄片或特定位点的网格可以被成像。

可以在专用监视器同时显示电子 - 和离子诱导的二次电子图像上查看原位标本。图像拍摄很简单,只要一个点击鼠标。

终点检测/处理终止

具有最佳电子透明度制备的样品是最好的质量TEM成像和分析的最终目标。采用当今像差校正TEM技术时,这一点尤为关键。

作为试件变薄,电子传输的增加和前缘回落,这允许检测器STEM提供结束点的信息。所述PicoMill系统还能够基于时间终止的,或者它可以手动停止。

显微镜连接减少了样品处理

使用相同的保持者PicoMill系统的能力和TEM意味着您可以快速,安全地从PicoMill系统的TEM,当你与一个-的一类标本的工作是特别有利的运输磨碎试样。

PicoMill是E.A.的注册商标。188bet体育国际Fischione仪器公司PicoMilling是E.A.的服务商标。188bet体育国际Fischione仪器公司