2050型

轴上旋转断层扫描仪支架
  • 接受杆状或锥形试样
  • 适用于聚焦离子束制备的样品
  • 原子探针层析和场离子显微镜样品的理想选择
  • 允许360度图像采集和断层重建,而不会因缺少楔块而丢失信息

高创新的杆或锥试样夹持器

轴上旋转断层扫描仪支架可接受杆状或锥形样本,并将其绕支架轴旋转360°。

轴上旋转断层成像在不丢失任何信息的情况下产生结果,从而提供来自样本的最大可实现数据量。

操作

轴上旋转断层扫描仪固定器具有一个圆柱形样本盒,样本柱插入其中。可提供直径为1.8 mm的样品柱,用于接受普通APFIM样品架,或1 mm用于接受FIB制备的样品。

装有试样的试样柱被夹在试样盒中,试样盒精确地安装在保持架的主体内。手动启动试样盒的纵向移动,以便将加载的试样盒缩回夹持器体内,以在夹持器插入和从TEM测角仪中取出时保护试样。

最初,可将试样完全旋转360度,以选择适当的试样方向。然后,一个3位精密分度机构提供了使试样以120°增量定向的方法。每增加一次,显微镜的测角仪倾斜到+60度,以获得断层倾斜系列。