型号1080.

Picomill®Tem样本制备系统

最佳TEM样本准备完成第一次对

  • 实现终极标本质量 - 没有非晶和植入层
  • 补充FIB技术
  • 铣削而不引入伪影
  • 用于成像和精确端点检测的高级探测器技术
  • 用离子和电子成像
  • 无风险标本处理的显微镜连通性
  • 增加能力和容量
  • 快速,可靠且易于使用

后网后处理产生最高质量的TEM标本

聚焦离子束(FIB)铣削是当今尖端材料的广泛使用的技术,其提供制备透射电子显微镜(TEM)样本的方法。使用这些先进材料的挑战是创建作为电子透明的标本,并且没有伪影。FIB在制备TEM标本方面具有高效,但使用高能,液态金属离子源通常可以导致样品非晶化,镓植入或两者。

Picomill系统是对FIB技术的理想补充;它增加了产生最佳样品质量的增加能力,同时通过移动最终稀疏的离线来提高整体样本制备吞吐量。

让FiB做FIB最好的东西;让Picomill系统休息

为了最大化FIB容量,可以在PICOMILL系统上离线移动标本以进行最终变薄。Picomill系统提供精确和可预测地薄的样本的能力,这降低了返工的可能性并优化样本处理时间。这通过生产卓越品质并增强整体样品制备产量来提高您的能力。

Picomill系统将允许您实现第一次对每次都准备样品。

特定网站,超低能量铣削

Picomill系统的离子源具有基于丝的电离室和静电镜片。专门开发离子源以产生具有亚微米离子束直径的超低离子能量。它使用惰性气体(氩气),其工作电压范围为50eV至2kV。

离子源的反馈控制算法在各种铣削参数上自动产生稳定和可重复的离子束条件。避免了溅射材料在感兴趣区域上,因为离子束可以集中在特定区域。您可以扫描样本表面的区域或针对选择性铣削的特定区域。离子只联系了他们需要进行工作所需的标本的兴趣点。离子束远离网格,这防止了雷蚀。

精确铣削角度调整

离子束撞击角可编程为-15°至+ 90°。离子源固定在适当位置,测筒仪倾向于通过Picomill系统用户界面实现编程铣削角度。试样沿X,Y和Z轴定位,以精确地将FIB薄片相对于离子和电子束定位。

铣削标本低发生率(少于10°),最大限度地减少损坏和标本加热。由于低角度铣削,结合离子束光栅化,便于不同材料的均匀稀释,所以在制备层状结构或复合材料时,它是非常有益的。

原位成像

要补充扫描电子柱,Picomill系统具有多个探测器:

  • 一种反向散射电子探测器(BSE)用于与电子的原位成像

  • 一种二次电子检测器(SED)用于与离子和电子的原位成像

  • 一种扫描/透射电子检测器(Stew)用于电子透明度和终点检测

检测器组合允许您在离子铣削之前,期间和之后的样品的原位成像。可以成像含有FIB薄皮叶片或特定位点的栅格。

您可以在专用监视器上查看原位的标本,以显示电子和离子引起的二次电子图像。图像捕获与单击鼠标一样简单。

终点检测/过程终止

用最佳电子透明度制备的样本是最佳质量的TEM成像和分析的最终目标。当采用当今的像差校正的TEM技术时,这是尤为键。

作为样品滤波,电子传输增加并且前沿回收,其允许阀杆检测器提供终点信息。Picomill系统也能够基于时间的终止,或者可以手动停止。

显微镜连接可减少样品处理

在Picomill系统中使用相同的持有者的能力和TEM意味着您可以快速安全地将碾碎的样本从Picomill系统运送到TEM,这在使用单一样本时特别有利。

Picomill是E.A的注册商标。188bet体育国际Fischione Instruments,Inc。Picomilling是E.A的服务标记。188bet体育国际Fischione Instruments,Inc。