1080型

PicoMill®透射电镜样品制备系统

最佳TEM样品制备完成一次成功

  • 达到最终样品质量 - 不含无定形和注入层
  • 补语FIB技术
  • 铣削不用介绍文物
  • 先进的成像检测技术和精确的端点检测
  • 离子和电子原位成像
  • 显微镜连接无风险的样本操作
  • 再添能力和实力
  • 快速、可靠、易用

纤维束后处理产生最高质量的透射电镜样品

聚焦离子束(FIB)铣削是当今尖端材料中广泛使用的技术,该技术提供了一种手段,以制备透射电子显微镜(TEM)的样品。在这些先进材料的工作所面临的挑战是创建一个是电子透明,并从文物免费标本。所述FIB是在制备TEM样品高度有效的,但使用高能量的,液态金属离子源可以经常导致样品非晶化,镓离子注入,或两者。

PicoMill系统是FIB技术的理想补充;它增加了生产最佳样品质量的能力,同时通过离线移动最终稀释来提高样品制备的总吞吐量。

让FIB做FIB最擅长的事;让PicoMill系统做休息

为了最大限度地提高容量FIB,标本可以离线的PicoMill系统最终细化移动。所述PicoMill系统提供的能力以精确地且可预测地薄的样品,这减少了潜在的返工和优化样本处理时间。这种通过生产优质的标本增加你的能力,以提高整个标本制作的吞吐量。

该PicoMill系统将让你实现一次成功样品制备每次。

网站专用,超低能量研磨

PicoMill系统的离子源具有灯丝基电离室和静电透镜。离子源是专为产生亚微米离子束直径的超低离子能量而研制的。它使用惰性气体(氩气),工作电压范围为50ev至2kv。

离子源的反馈控制算法可在多种铣削参数下自动产生稳定且可重复的离子束条件。由于离子束可以聚焦到特定的区域,避免了溅射材料在感兴趣区域的重新定位。您可以扫描样本表面的一个区域,或瞄准特定区域进行选择性铣削。离子只与样品上的感兴趣的位置接触,在那里他们需要做这项工作。离子束远离网格,这就防止了重新定位。

精确铣削角度调整

离子束冲击角度是从可编程-15°至+ 90°。离子源被固定在适当位置和测角仪倾斜的试样保持器,以实现通过PicoMill系统的用户界面编程的铣削角度。将试样沿X,Y定位,和Z轴精确地定向所述薄片FIB相对于所述离子束和电子束。

在低入射角(小于10°)下铣削试样可将损伤和试样加热降至最低。由于低角度铣削与离子束光栅化相结合,有利于不同材料的均匀细化,因此在制备层状结构或复合材料时非常有利。

原位成像

为了补充扫描电子柱中,PicoMill系统具有多个检测器:

  • 一个背散射电子检测器在用电子原位成像(BSE),用于

  • 一个二次电子探测器(SED)用于离子和电子原位成像

  • 一个扫描/透射电子检测器(STEM)用于电子透明度和端点检测

该检测器相结合,可以在试样的原位成像期间之前执行,和离子铣之后。含有上的常规制备的试样中的FIB薄片或特定位点的网格可以被成像。

可以在专用监视器同时显示电子 - 和离子诱导的二次电子图像上查看原位标本。图像拍摄很简单,只要一个点击鼠标。

终点检测/过程终止

具有最佳电子透明度制备的样品是最好的质量TEM成像和分析的最终目标。采用当今像差校正TEM技术时,这一点尤为关键。

作为试件变薄,电子传输的增加和前缘回落,这允许检测器STEM提供结束点的信息。所述PicoMill系统还能够基于时间终止的,或者它可以手动停止。

显微镜的连通性降低了样品处理

在PicoMill系统和TEM中使用相同夹持器的能力意味着您可以快速、安全地将研磨后的试样从PicoMill系统运输到TEM,这在使用独一无二的试样时尤其有利。

PicoMill是E.A.的注册商标。188bet体育国际Fischione仪器公司PicoMilling是E.A.的服务商标。188bet体育国际Fischione仪器公司